Detecting LC numerators re-forming and recombining at the IC leakage area,在显微镜下呈现出不同于其它区域的斑状影像, 找寻在实际分析中困扰设计人 员的漏电区域（超过10mA之故障点）。LC可侦测因ESD,EOS应力破坏导致芯片失效的具体位置。

（See also: EMMI,OBIRCH ）ddddddddddddddddddddddddddddd

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Microampere Level